[发明专利]放置用于多位测试的单体半导体设备的系统和方法有效
| 申请号： | 201580039543.7 | 申请日： | 2015-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN106537163B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | M·J·加布里埃尔三世;黄彦凯 | 申请（专利权）人： | 美国思睿逻辑有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 孙大为 |
| 地址： | 美国德克萨*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于多位放置单体半导体设备的系统和方法。用于多位放置的系统和方法可以促进单体半导体设备的多位测试。一种方法可以包括确定要设置在测试配置中的单体半导体设备的数量。该方法还包括响应于该数量利用数据处理设备来确定测试配置。在其他实施例中，该方法可以包括将单体半导体设备放置在根据该测试配置的测试框架中。 | ||
| 搜索关键词： | 放置 用于 测试 单体 半导体设备 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种放置用于多位测试的单体半导体设备的方法，包括：确定用于测试的单体半导体设备的数量；确定测试配置来用于布置所述数量对应的所述单体半导体设备，其中所述测试配置基于所述单体半导体设备的所述数量，所述测试配置可布置在测试框架上，其允许由多点测试探头来多点测试探测单体半导体设备，所述多点测试探头包括测试探头配置，其中所述测试配置还基于所述测试探头配置以及所述测试配置被配置为增强所述多点测试探头的使用的测试配置；在所述测试框架上布置所述测试配置；和执行对布置在所述测试框架上的所述单体半导体设备的多点测试探测。
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