[发明专利]用于样品的显微镜检查的方法和装置有效
| 申请号： | 201580039212.3 | 申请日： | 2015-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN106574899B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | W·奈彼尔 | 申请（专利权）人： | 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G02B21/06;G02B21/16;G02B27/56 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇;王博 |
| 地址： | 德国韦*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于显微镜地检查样品(5)的方法。该方法包括如下步骤：使样品(5)与具有比样品(5)更高的折射率的光学透明介质(12)接触，产生辐照光束(13)，并且引导辐照光束(13)通过聚焦辐照光束的辐照透镜(1)。随后，使用布置在检测透镜(2)上的偏转部件在待检查的样品(5)的方向上偏转辐照光束(13)，从而使得辐照光束(13)照射光学透明介质(12)和样品(5)之间的界面(10)，并且在界面(10)完全反射以用于样品(5)的倏逝辐照。最后，对由样品(5)发射并通过检测透镜(2)的荧光进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样品 显微镜 检查 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于样品(5)的显微镜检查的方法，其特征在于以下步骤：a.使所述样品(5)与折射率比所述样品(5)更高的光学透明介质(12)接触，b.产生辐照光束(13)，c.引导所述辐照光束(13)通过聚焦所述辐照光束(13)的辐照物镜(1)，d.使已经通过所述辐照物镜(1)的辐照光束(13)在待检查的样品(5)的方向上偏转，并且这使用布置在检测物镜(2)上的偏转部件来实现，以使得所述辐照光束(13)照射所述光学透明介质(12)和所述样品(5)之间的边界表面(10)并在所述边界表面(10)上全反射以倏逝地辐照所述样品(5)，e.检测由所述样品(5)发射并通过所述检测物镜(2)的荧光。
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