[发明专利]试样分析用基板和试样分析装置在审
| 申请号： | 201580035558.6 | 申请日： | 2015-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN106662596A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 佐伯将之;城野政博;冈本房俊;近藤和也 | 申请（专利权）人： | 松下健康医疗控股株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/08;G01N37/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人： | 张轶楠,段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种试样分析用基板，是用于使液体试样中的分析物和配体产生结合反应的试样分析用基板，该基板具备基体基板，其具有旋转轴和预定的厚度；腔室，其位于基体基板内，构成为保持包含分析物和在磁性颗粒的表面固定化的配体的液体试样；以及至少1个磁体，其配置于在腔室内捕捉磁性颗粒的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 用基板 装置 | ||
【主权项】：
一种试样分析用基板，用于使液体试样中的分析物和配体产生结合反应，该基板具备：基体基板，其具有旋转轴和预定的厚度；腔室，其位于所述基体基板内，构成为保持包含分析物和在磁性颗粒的表面固定化的配体的液体试样；以及至少1个磁体，其配置于在所述腔室内捕捉所述磁性颗粒的位置。
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