[发明专利]试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统及从含磁性颗粒的液体中去除液体的方法有效

专利信息
申请号: 201580035325.6 申请日: 2015-06-29
公开(公告)号: CN106662595B 公开(公告)日: 2019-10-15
发明(设计)人: 冈本房俊;城野政博 申请(专利权)人: 普和希控股公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N35/08;G01N37/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 张轶楠;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种通过旋转运动进行液体的移送的试样分析用基板,具备:有旋转轴的基板;第1腔室,其位于所述基板内,具有用于保持液体以及磁性颗粒的第1空间;第2腔室,其位于所述基板内,具有用于保持从所述第1腔室排出的所述液体的第2空间;流路,其位于所述基板内,具有将所述第1腔室与所述第2腔室连接的路径;以及磁体,其在所述基板内位于接近所述基板的所述第1空间的位置,用于捕捉所述第1腔室中的所述磁性颗粒。
搜索关键词: 试样 分析 用基板 装置 系统 磁性 颗粒 液体 去除 方法
【主权项】:
1.一种试样分析用基板,是通过旋转运动来进行液体的移送的试样分析用基板,该基板具备:基板,其具有旋转轴;第1腔室,其位于所述基板内,具有用于保持液体以及磁性颗粒的第1空间;第2腔室,其位于所述基板内,具有用于保持从所述第1腔室排出的所述液体的第2空间;流路,其位于所述基板内,具有将所述第1腔室和所述第2腔室连接的路径;以及磁体,其在所述基板内位于与所述基板的所述第1空间相比靠以所述旋转轴为中心的半径方向的外侧的位置,用于捕捉所述第1腔室中的所述磁性颗粒,所述流路是毛细管道,所述基板具有在所述基板内规定所述第1空间的至少1个内表面,所述至少1个内表面包括位于离所述旋转轴最远的位置的侧面部分,所述磁体位于接近所述至少1个内表面的侧面部分、并且与所述侧面部分相比远离所述旋转轴的位置,所述基板具有第1主面以及第2主面,所述基板的所述至少1个内表面包括沿着所述第1主面以及所述第2主面的上表面部分以及下表面部分,所述流路在第1腔室的开口与所述至少1个内表面的所述下表面部分相接,所述磁体与所述流路的所述开口相比位于所述上表面部分侧。
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