[发明专利]用于在衬底上产生多个空间分离的检验区域的方法、设备及系统有效
申请号: | 201580029478.X | 申请日: | 2015-06-22 |
公开(公告)号: | CN106415809B | 公开(公告)日: | 2018-06-22 |
发明(设计)人: | J·内斯比特 | 申请(专利权)人: | 科磊股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 利用多个照明区域进行的检验包含:产生沿着初级照明方向引导的初级照明光束;沿着第一照明方向传输所述初级照明光束的一部分;利用一或多个角度选择元件使所述初级照明光束的一部分沿着不同于所述第一照明方向的第二照明方向偏转;将所述初级照明光束的所述经传输部分聚焦到衬底的第一检验区域上;及将所述初级照明光束的所述经偏转部分聚焦到所述衬底的与所述第一检验区域空间分离的第二检验区域上。 | ||
搜索关键词: | 照明光束 检验区域 衬底 空间分离 聚焦 偏转 设备及系统 传输 方向偏转 方向引导 角度选择 照明区域 检验 | ||
【主权项】:
1.一种检验系统,其包括:照明源,其用于产生沿着初级照明方向引导的初级照明光束;一或多个可致动的偏振照明偏转元件,其选择性地可致动于所述初级照明光束内,所述一或多个可致动的照明偏转元件经配置以沿着第一照明方向引导所述初级照明光束的具有第一偏振的第一部分以便形成第一检验光束,所述一或多个可致动的照明偏转元件进一步经配置以沿着第二照明方向引导所述初级光束的具有正交于所述第一偏振的第二偏振的第二部分以便形成第二检验光束,所述第二照明方向不同于所述第一照明方向;及物镜,其经配置以将具有所述第一偏振的所述第一检验光束聚焦到衬底的第一区域上,所述物镜进一步经配置以将具有所述第二偏振的所述第二检验光束聚焦到所述衬底的第二区域上,所述第一区域与所述第二区域空间分离;以及一或多个图像传感器,其中所述一或多个图像传感器经配置以分别收集从所述衬底的所述第一区域射出的照明以及从所述衬底的所述第二区域射出的照明,其中从所述衬底的所述第一区域射出的所述照明与从所述衬底的所述第二区域的所述照明互不干扰。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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