[发明专利]用于构造三维(3D)集成电路(IC)(3DIC)和相关系统的方法有效
申请号: | 201580026517.0 | 申请日: | 2015-04-20 |
公开(公告)号: | CN106463459B | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 杜杨;卡里姆·阿拉比 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822;H01L27/06 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 宋献涛 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明揭示用于构造三维集成电路和相关系统的方法。在一个方面中,通过在固持衬底上形成例如晶体管的有源元件来构造第一层。在所述有源元件上方形成互连金属层。在所述互连金属层内形成金属接合垫。还同时或依序地形成第二层。所述第二层与所述第一层以大致相同的方式形成且接着置于所述第一层上,使得所述相应金属接合垫对准且将一个层接合至另一层。接着释放所述第二层的所述固持衬底。接着薄化所述第二层的背侧,使得所述有源元件的后表面(例如,晶体管中的栅极的背面)暴露。可在需要的情况下添加额外层,从而基本上重复此工艺。 | ||
搜索关键词: | 用于 构造 三维 集成电路 ic dic 相关 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种形成三维3D集成电路IC3DIC的方法,其包括:通过以下操作形成第一层:提供第一固持衬底;在所述第一固持衬底上方形成第一晶体管;以及在所述第一晶体管上方形成包含第一金属接合垫的第一互连金属层;通过以下操作形成第二层:提供第二固持衬底;在所述第二固持衬底上方形成第二晶体管;以及在所述第二晶体管上方形成包含第二金属接合垫的第二互连金属层;将所述第一金属接合垫接合到所述第二金属接合垫;释放所述第二固持衬底且暴露所述第二晶体管的第二后表面;以及将背栅添加到所述第二晶体管以使得所述背栅位于所述第二后表面的上方且接近所述第二后表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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