[发明专利]容器检查有效
| 申请号： | 201580019690.8 | 申请日： | 2015-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN106415250B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | B·霍伊夫特 | 申请（专利权）人： | 霍伊夫特系统技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/90 | 分类号： | G01N21/90;A61L2/10 |
| 代理公司： | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 卫娟 |
| 地址： | 德国布*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检查空的容器的杂质的设备，其包括：用于产生激发射束的辐射源(1)，其中，激发射束被引到容器的内壁上并且激发需探测的杂质发出发光射束，至少一个用于探测由杂质发出的发光射束的装置(5)，以及用于对探测到的发光射束进行分析处理的装置。本发明还涉及一种用于检查空的容器的杂质的相应方法。 | ||
| 搜索关键词： | 容器 检查 | ||
【主权项】：
1.用于检查空的容器的杂质的设备，其包括：/n用于产生激发射束的辐射源(1)，其中，激发射束被引到容器的内壁上并且激发需探测的杂质发出发光射束，/n至少一个用于探测由杂质发出的发光射束的探测装置(5)，以及/n用于对探测到的发光射束进行分析处理的装置，/n其特征在于，/n辐射源(1)设置成照亮容器的整个内部空间，并且/n辐射源(1)是脉冲运行的辐射源，探测装置(5)是快门相机。/n
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