[发明专利]集成电路动态去老化有效
申请号: | 201580017723.5 | 申请日: | 2015-03-04 |
公开(公告)号: | CN106133536B | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | J·刘;J·S·伊布拉希莫维奇;J·C·迪范德佛;C·奥永 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/317;H03K3/03;H03K5/01;H03K19/003 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 杨丽 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种集成电路通过用老化传感器测量老化来动态地补偿电路老化。老化传感器在已老化和未老化状况中使用相同的电路来测量电路速度。一示例老化传感器包括两个延迟线(411,412)。延迟线(411,412)被控制为处于静态老化状态,或者延迟线(411,412)被耦合以形成能够在其中频率被老化减缓的已老化状态中或者在其中频率未被老化减缓的未老化状态中操作的环形振荡器。该集成电路使用老化测量以用于动态电压和频率缩放。动态电压和频率缩放使用基于老化测量被周期性地更新的工作频率和对应电压的表。该集成电路使用关于老化测量与电路性能之间的关系的信息来更新该表。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 动态 老化 | ||
【主权项】:
1.一种用于感测集成电路的老化的电路,包括:具有第一输入和第一输出的第一延迟链;具有第二输入和第二输出的第二延迟链;以及控制模块,其被配置成将第一延迟链和第二延迟链置于老化状态、已老化振荡状态、或未老化振荡状态中;其中所述老化状态包括将工作电压供应到第一延迟链和第二延迟链;所述老化状态进一步包括将第一逻辑值供应到第一输入以及将第二逻辑值供应到第二输入,其中第一逻辑值是第二逻辑值的补;所述已老化振荡状态包括在第一输出与第二输出之间进行选择,并且将所选信号耦合到第一输入和第二输入,其中第一输出在第一输入转变为第一逻辑值之后被选择并且第二输出在第二输入转变为第二逻辑值之后被选择;所述未老化振荡状态包括在第一输出与第二输出之间进行选择,并且将所选信号耦合到第一输入和第二输入,其中第一输出在第一输入转变为第二逻辑值之后被选择并且第二输出在第二输入转变为第一逻辑值之后被选择。
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