[发明专利]用于分子分析的三电极设备和方法在审

专利信息
申请号: 201580017310.7 申请日: 2015-03-06
公开(公告)号: CN106164659A 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: 沙利尼·普拉萨德;安詹·帕尼尔·塞尔万 申请(专利权)人: 得克萨斯州大学系统董事会
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 唐京桥;陈炜
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本请求保护的发明是用于以手持测量装置来执行阻抗谱的设备和方法。共形分析物传感器电路包括多孔纳米织构衬底和在电路设计中位于固体衬底的上表面上的导电材料,该共形分析物传感器电路可以单独使用或者与手持电势计联合使用。还公开了使用手持测量装置来检测和/或量化样本中的目标分析物的方法。
搜索关键词: 用于 分子 分析 电极 设备 方法
【主权项】:
一种使用手持测量装置和共形分析物传感器电路来检测或量化样本中的多种类型的目标分析物的方法,所述方法包括以下步骤:(a)将包含多种目标分析物的样本置于具有传感器电路的共形衬底上,所述传感器电路包括第一电极、第二电极和第三电极;(b)以第一相位角在所述第一电极与所述第二电极之间施加第一交流输入电压;(c)以第二相位角在所述第三电极与所述第二电极之间施加第二交流输入电压,其中,所述第一相位角和所述第二相位角相隔恒定的相位角增量;(d)在不同频率处测量输出电流并且针对不同分析物来改变相位角;(e)使用可编程增益放大器来放大从所述第一电极和所述第三电极流出并且流过所述第二电极的输出电流;(f)将双电层划分成多个平面,其中,所述双电层接近于所述第一电极的表面、所述第二电极的表面和所述第三电极的表面;(g)改变第一输入电压的第一相位角和第二输入电压的第二相位角;(h)识别发生最大阻抗变化处的第一相位角和第二相位角;(i)测量在所述第一相位角和所述第二相位角处识别的阻抗;以及(j)使用不同频率下测量的阻抗和相关联的相位角、通过利用标准校准曲线来检测多种目标分析物或计算目标分析物的浓度。
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