[发明专利]非接触电压计测装置有效

专利信息
申请号: 201580011383.5 申请日: 2015-02-04
公开(公告)号: CN106062569B 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 今井纮;松浦圭记;德崎裕幸;荻本真央;川上悟郎;富田公平;冈村笃宏 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01R15/06 分类号: G01R15/06
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本国京*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种非接触电压计测装置,该非接触电压计测装置能够以恒定的精度计测形状不同的各种导线的计测对象电压。根据接线(w)的形状而变形的内侧电极(11A)与相对于电场屏蔽件(12)固定的外侧电极(11B)经由连接部(20)电连接。
搜索关键词: 接触 电压计 装置
【主权项】:
1.一种非接触电压计测装置,该非接触电压计测装置具有探针,当使该探针以不接触的方式接近导体以使得在该探针与上述导体之间产生耦合电容时,根据经由该探针输入到电路中的电压信号来计测施加给上述导体的计测对象电压,其特征在于,该非接触电压计测装置具有电场屏蔽件,该电场屏蔽件通过覆盖上述电路的至少一部分而屏蔽入射到上述电路的电场,上述探针具有:第1电极,其根据导体的形状而进行弹性变形,第2电极,即使在上述第1电极发生了变形的情况下,也通过保持该第2电极相对于上述电场屏蔽件的相对位置而将在该第2电极与上述电场屏蔽件之间产生的寄生电容的电容值维持为恒定,上述第1电极与上述第2电极电连接,上述第2电极被配置于能够遮蔽在上述第1电极与上述电场屏蔽件之间产生的电场的位置。
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