[发明专利]用于检测缺陷光传感器的方法在审
| 申请号： | 201580011014.6 | 申请日： | 2015-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN106164631A | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | T.J.J.登特尼尔 | 申请（专利权）人： | 飞利浦灯具控股公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张同庆;陈岚 |
| 地址： | 荷兰埃*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种检测缺陷光传感器的方法包括以下操作：‑收集数据，包括收集光传感器数据；‑在所收集的数据上执行准备过程以便确定模板；以及‑执行检测过程以用于确定光传感器状态。执行准备过程的操作包括在定义明确的条件下确定在构成一日的部分的时间段期间收集的光传感器数据的行为的模板。执行检测过程的操作包括以下操作：‑针对另外的若干日在对应的时间段期间收集光传感器数据；‑选择其代表性日；‑针对每一个所选日确定对应的行为；以及‑将对应的行为与模板进行比较以检测光传感器的任何缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 缺陷 传感器 方法 | ||
【主权项】：
一种检测缺陷光传感器的方法，包括：‑ 收集数据，包括收集光传感器数据；‑ 在所收集的数据上执行准备过程以便确定模板；以及‑ 执行检测过程以用于确定光传感器状态；所述执行准备过程包括：‑ 在基于另外的输入数据确定的定义明确的条件下确定表示在构成一日的部分的时间段期间收集的光传感器数据的行为的模板；并且所述执行检测过程包括：‑ 针对另外的若干日在对应的时间段期间收集光传感器数据；‑ 通过标识类似的定义明确的条件而选择其代表性日；‑ 针对每一个所选日确定对应的行为；以及‑ 将对应的行为与模板进行比较以检测光传感器的任何缺陷。
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