[发明专利]用于控制膜的张力的系统以及包含该系统的用于制造偏振板的系统有效

专利信息
申请号: 201580003113.X 申请日: 2015-03-04
公开(公告)号: CN107076900B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 金恩帝;张应镇;申在玉;金闰洙;金泰植;朴正圭;方泳善;河义凤;黄同起;尹重植 申请(专利权)人: LG化学株式会社
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30;B29C55/02
代理公司: 北京金信知识产权代理有限公司 11225 代理人: 张皓;李海明
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 根据本公开的实施方式的膜张力控制系统包括:层分离单元,其被安装在偏振板的转移路径上以从偏振膜层分离离型膜,所述偏振板包括所述偏振膜和粘附到所述偏振膜的一个表面上的离型膜;检查单元,其被安装在偏振膜的转移路径上以检查杂质是否存在于在所述偏振膜的一个表面上形成的粘合剂层中;张力指示单元,其被安装在离型膜的移动路径上以指示施加到所述离型膜的张力程度;再次层压单元,其将已通过所述张力指示单元的离型膜再次层压到已通过所述检查单元的偏振膜的粘合剂层上;以及张力调节单元,其被安装在再次层压的偏振板的转移路径上以调节光学膜和离型膜的张力。
搜索关键词: 用于 控制 张力 系统 以及 包含 制造 偏振
【主权项】:
1.一种膜张力控制系统,其包括:层分离单元,其被安装在偏振板的转移路径上以从所述偏振膜层分离离型膜,所述偏振板包括所述偏振膜和粘附到所述偏振膜的一个表面上的所述离型膜;检查单元,其被安装在所述偏振膜的转移路径上以检查杂质是否存在于在所述偏振膜的一个表面上形成的粘合剂层中;张力指示单元,其被安装在所述离型膜的移动路径上以指示施加到所述离型膜的张力程度;再次层压单元,其将已通过所述张力指示单元的离型膜再次层压到已通过所述检查单元的偏振膜的粘合剂层上;以及张力调节单元,其被安装在再次层压的偏振板的转移路径上以调节光学膜和离型膜的张力。
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