[实用新型]一种与非型闪存中坏列的处理装置及与非型闪存有效

专利信息
申请号: 201521138836.4 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN205541960U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 刘会娟 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司
主分类号: G11C29/24 分类号: G11C29/24
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬;邓猛烈
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型实施例公开了一种与非型闪存中坏列的处理装置及与非型闪存,所述装置包括:坏列扫描模块,用于扫描所述与非型闪存的存储区块,并扫描出所述存储区块中的坏列;坏列个数统计模块,用于通过所述存储区块中的冗余列替换所述坏列并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中,记录所述坏列个数;错误数据个数获取模块,用于扫描写入数据后的所述存储区块并得出所述存储区块的错误信息个数,根据所述错误信息个数和所述坏列个数得出所述存储区块的错误数据个数。本实用新型实施例中仅需要至少一个标记锁存器用于记录坏列信息,可以大大减少标记锁存器占用的面积,也降低与非型闪存排版布局的难度。
搜索关键词: 一种 闪存 中坏列 处理 装置
【主权项】:
一种与非型闪存中坏列的处理装置,其特征在于,包括:坏列扫描模块,用于扫描所述与非型闪存的存储区块,并扫描出所述存储区块中的坏列;坏列个数统计模块,用于通过所述存储区块中的冗余列替换所述坏列并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中,记录所述坏列个数;错误数据个数获取模块,用于扫描写入数据后的所述存储区块并得出所述存储区块的错误信息个数,根据所述错误信息个数和所述坏列个数得出所述存储区块的错误数据个数。
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