[实用新型]一种晶元芯片检测头结构有效
申请号: | 201521035528.9 | 申请日: | 2015-12-12 |
公开(公告)号: | CN205229402U | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 邹磊 | 申请(专利权)人: | 普铄电子(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200131 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及自动化检测工装技术领域,公开了一种晶元芯片检测头结构,包括线路板、连接套,线路板的中间部位设有定位通孔,连接套的一端延伸形成与定位通孔卡接的定位凸环,连接套的外端的两侧各设有一排测针,测针包括测针套、设在测针套内的可伸缩的测针头,测针套与连接套的端面之间通过胶水层连接,每个测针的测针头高出胶水层的端面,每个测针的测针套通过导线与线路板连接。本实用新型具有能适用于自动检测设备,极大提高检测效率的有益效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 检测 结构 | ||
【主权项】:
一种晶元芯片检测头结构,其特征是,包括线路板、连接套,所述线路板的中间部位设有定位通孔,所述连接套的一端延伸形成与定位通孔卡接的定位凸环,所述连接套的外端的两侧各设有一排测针,所述的测针包括测针套、设在测针套内的可伸缩的测针头,所述的测针套与连接套的端面之间通过胶水层连接,每个测针的测针头高出胶水层的端面,每个测针的测针套通过导线与线路板连接。
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