[实用新型]一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片有效

专利信息
申请号: 201521001838.9 申请日: 2015-12-04
公开(公告)号: CN205537984U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 张新宇;雷宇;信钊炜;魏冬;桑红石;王海卫;谢长生 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 朱仁玲
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片,包括可寻址加电液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块;液晶微光学结构被划分成可独立施加电驱控信号的多个液晶微光学块,各液晶微光学块具有相同的面形和结构尺寸,被加电液晶微光学块为液晶微透镜阵列块,其余未加电液晶微光学块为液晶相移板块;被液晶微光学块化的液晶微光学结构将与其对应的面阵可见光探测器划分成同等面形和规模的面阵可见光探测器块,各面阵可见光探测器块包含同等数量和排布方式的探测器。本实用新型具有执行可寻址选择及变更局域波前测量的成像探测效能,使用方便,易与常规成像光学系统耦合。
搜索关键词: 一种 寻址 测量 局域 成像 探测 芯片
【主权项】:
一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片,其特征在于,包括可寻址加电液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块,其中,所述可寻址加电液晶微光学结构被划分成多个阵列分布的液晶微光学块,各液晶微光学块具有相同的面形和结构尺寸,在时序加电态下为液晶微透镜阵列块,在时序断电态下为液晶相移板块;所述可寻址加电液晶微光学结构依照其被划分的液晶微光学块规模和形态,将与其对应的面阵可见光探测器划分成同等面形和规模的面阵可见光探测器块,各面阵可见光探测器块包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的探测元;所述可寻址加电液晶微光学结构与所述面阵可见光探测器匹配耦合,每个液晶微光学块与一个面阵可见光探测器块对应,在加电态下的一个液晶微透镜阵列块与一个面阵可见光探测器块构成一个波前测量块,在断电态下的一个液晶相移板块与一个面阵可见光探测器块构成一个常规成像探测块;所述液晶微透镜阵列块用于将目标的局域光波前离散成多个倾斜程度各异的子平面波前,并进一步聚焦在与各液晶微透镜对应的子面阵可见光探测器的相应光敏元上;所述面阵可见光探测器用于将汇聚在各探测器上的汇聚光波转换成电信号并经过后续的量化和校准,以及通过解算各子面阵可见光探测器的光电信号所归属的探测元位置数据,得到所对应的子平面波前的倾角数据,综合各子平面波前的倾角数据及成像光学系统的折光汇聚数据,构建出局域波前数据并输出;所述面阵可见光探测器还用于将进行波前测量的光电信号汇总,构建出由电控液晶微透镜阵列块决定的对应测量波前且空间分辨率降低后的成 图数据并输出;所述液晶相移板块用于延迟目标光束相位并与面阵可见光探测器块耦合,构成成像探测模态下的微光学/光电成像探测块。
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