[实用新型]一种光学元件表面质量检测装置及其检测平台有效
申请号: | 201520987387.4 | 申请日: | 2015-12-02 |
公开(公告)号: | CN205426806U | 公开(公告)日: | 2016-08-03 |
发明(设计)人: | 李真雄;张佳;展亚伦 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 陈晓辉 |
地址: | 471009 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种光学元件表面质量检测装置及其检测平台,其中光学元件表面质量检测平台包括用于固定连接在显微镜本体上的连接底座,所述连接底座上转动装配有转台,所述转台的转动轴线沿上下方向延伸,所述转台上设有用于放置待检测的光学元件的安装结构,所述安装结构具有用于对所述光学元件支撑的支撑面。利用可旋转的检测平台保证被测元件始终在显微镜物镜的视场范围内,达到快速检测元件的刻度等表面质量和指标的目的,避免对光学元件产生划伤的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 元件 表面 质量 检测 装置 及其 平台 | ||
【主权项】:
光学元件表面质量检测平台,其特征在于:包括用于固定连接在显微镜本体上的连接底座,所述连接底座上转动装配有转台,所述转台的转动轴线沿上下方向延伸,所述转台上设有用于放置待检测的光学元件的安装结构,所述安装结构具有用于对所述光学元件支撑的支撑面。
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