[实用新型]一种与氦质谱检漏仪配合使用的真空罩盒有效
申请号: | 201520529148.4 | 申请日: | 2015-07-21 |
公开(公告)号: | CN204831727U | 公开(公告)日: | 2015-12-02 |
发明(设计)人: | 何凤涛;刘顺涛;张在学;樊西锋;熊衍龙;薛松;陈爱民;郭喜锋;杨兵云 | 申请(专利权)人: | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 |
主分类号: | G01M3/20 | 分类号: | G01M3/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610092*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型属于产品密封性检测领域,涉及一种与氦质谱检漏仪配合使用的真空罩盒。该真空罩盒包括胶圈、连接管嘴和吸盘,所述胶圈分别与连接管嘴、吸盘固定连接,所述吸盘的截面的形状从上至下依次为长方形、第一梯形、第二梯形和第三梯形,所述长方形的长边为第一梯形的上底,所述第一梯形的下底为第二梯形的下底,所述第二梯形的上底为第三梯形的上底。本实用新型能够实现在部件制造过程中对部件进行检漏。 | ||
搜索关键词: | 一种 氦质谱 检漏 配合 使用 真空 | ||
【主权项】:
一种与氦质谱检漏仪配合使用的真空罩盒,其包括胶圈(1)、连接管嘴(2)和吸盘(3),所述胶圈(1)分别与连接管嘴(2)、吸盘(3)固定连接,其特征在于:所述吸盘(3)的截面的形状从上至下依次为长方形(34)、第一梯形(31)、第二梯形(32)和第三梯形(33),所述长方形(34)的长边为第一梯形(31)的上底,所述第一梯形(31)的下底为第二梯形(32)的下底,所述第二梯形(32)的上底为第三梯形(33)的上底。
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