[实用新型]一种芯片离心防放错位置的装置有效
申请号: | 201520502663.3 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN204958888U | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 王德明 | 申请(专利权)人: | 江苏苏博生物医学科技有限公司 |
主分类号: | C12M1/00 | 分类号: | C12M1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 223800 江苏省宿*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片离心防放错位置的装置,包括芯片适配器以及安装于芯片适配器内的芯片,芯片适配器的一外侧为离心机外侧,另一外侧为离心机内侧,靠近离心机内侧的芯片上设有入样槽,靠近离心机外侧的芯片上设有出样槽,芯片上设有一缺口,在芯片适配器与芯片的缺口吻合处设有一障碍物。本实用新型的优点是:一种芯片离心防放错位置的装置,可完全消除因芯片放反造成的实验事故,避免了实验人员反复多次多人的核对芯片放置位置,减轻了实验人员的工作压力,提高了实验的成功率。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 离心 放错 位置 装置 | ||
【主权项】:
一种芯片离心防放错位置的装置,包括芯片适配器以及安装于芯片适配器内的芯片,所述芯片适配器的一外侧为离心机外侧,另一外侧为离心机内侧,靠近所述离心机内侧的芯片上设有入样槽,靠近所述离心机外侧的芯片上设有出样槽,其特征在于:所述芯片上设有一缺口,在所述芯片适配器与芯片的缺口吻合处设有一障碍物。
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