[实用新型]无损探测手柄有效
| 申请号： | 201520448787.8 | 申请日： | 2015-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN204989100U | 公开（公告）日： | 2016-01-20 |
| 发明（设计）人： | 殷涛;刘东平;牛建锋;王锴 | 申请（专利权）人： | 北京锦润汇泽科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100007 北京市东*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种无损探测手柄，属于金属检测的技术领域。本实用新型的无损探测手柄，包括用于对磁条进行消磁的第一磁铁，和对磁条进行加磁的第二磁铁。本实用新型的无损探测手柄通过扫描金属表面的磁场信息，来判断并确定铁磁性金属表面的缺陷，由于磁场不受灰尘、油漆的影响，因此可以实现无损探测。 | ||
| 搜索关键词： | 无损 探测 手柄 | ||
【主权项】：
一种无损探测手柄，其特征在于：所述手柄包括手持部、位于手持部前端的头部，以及设置在所述手持部对磁条进行消磁的第一磁铁，和设置在所述头部对磁条进行加磁的第二磁铁。
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