[实用新型]样品测量装置有效
| 申请号： | 201520389397.8 | 申请日： | 2015-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN204694626U | 公开（公告）日： | 2015-10-07 |
| 发明（设计）人： | 邓文平;赵辉 | 申请（专利权）人： | 苏州谱道光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 党晓林 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种样品测量装置，包括：光源、第一光学元件、第二光学元件、回返光学元件和检测单元，其中，所述光源发出的光辐射依次经过所述第一、第二光学元件并形成主光路；所述第一、第二光学元件将所述主光路分为输入段、过渡段和测量段；所述主光路被回返光学元件反射后形成反射光路，所述反射光路在过渡段和测量段与主光路平行；沿着所述主光路方向上，所述第一光学元件至第二光学元件之间的距离调节时，或第二光学元件至回返光学元件之间的距离调节时，反射光路与主光路保持平行；所述检测单元包括第一探测器，所述第一探测器能接收主光路与待测样品相互作用后的光辐射。本实用新型所述样品测量装置，其能够满足通用性要求。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种样品测量装置，其特征在于，包括：光源、第一光学元件、第二光学元件、回返光学元件和检测单元，其中，所述光源发出的光辐射依次经过所述第一光学元件、第二光学元件并形成主光路；所述第一光学元件、第二光学元件将所述主光路分为输入段、过渡段和测量段；所述主光路被回返光学元件反射后形成反射光路，所述反射光路在过渡段和测量段与主光路平行；沿着所述主光路方向上，所述第一光学元件至第二光学元件之间的距离调节时，或第二光学元件至回返光学元件之间的距离调节时，反射光路与主光路保持平行；所述检测单元包括第一探测器，所述第一探测器能接收主光路的光辐射。
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