[实用新型]一种薄片激光测厚系统有效

专利信息
申请号: 201520349723.2 申请日: 2015-05-27
公开(公告)号: CN204924188U 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: 吴转运 申请(专利权)人: 郑州宏拓超硬材料制品有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 郑州中原专利事务所有限公司 41109 代理人: 李想
地址: 450016 河南*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 实用新型提供一种薄片激光测厚系统,包括分别位于待测薄片两侧的激光发射器,左、右两侧的激光发射器发射的激光束垂直投射到待测薄片的两个侧面上形成光斑;光斑上的激光漫反射的能量经接收光学系统的接收镜头Ⅰ和接收镜头Ⅱ分别成像在电荷藕合元件(CDD)上;待测薄片通过待测薄片传送系统传送至薄片激光测厚系统,激光发射器位于待测薄片传送系统的两侧,接收镜头和CDD均安装在待测薄片传送系统的机架上。本实用新型采用的是非接触式的测量,相比对于接触式的测厚仪更加精确,不会因为磨损而损失精度,相比于超声波测厚仪精度更高。
搜索关键词: 一种 薄片 激光 系统
【主权项】:
一种薄片激光测厚系统,包括分别位于待测薄片两侧的激光发射器,左、右两侧的激光发射器发射的激光束垂直投射到待测薄片的两个侧面上形成光斑;光斑上的激光漫反射的能量经接收光学系统的接收镜头Ⅰ和接收镜头Ⅱ分别成像在CDD上;其特征在于:所述激光发射器位于待测薄片传送系统的两侧,所述的接收镜头和CDD均安装在待测薄片传送系统的机架上。
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