[实用新型]一种集成电路对插测试结构有效
| 申请号： | 201520230680.6 | 申请日： | 2015-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN204515083U | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | 王国华 | 申请（专利权）人： | 深圳市斯纳达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳国鑫联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人： | 王志强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种集成电路对插测试结构，涉及半导体器件测试领域。一种集成电路对插测试结构包括上端子板、下端子板，所述上端子板底面设有上对插端子，所述下端子板的顶面设有下对插端子，所述上端子板通过上对插端子与下对插端子的对插与下端子板连接。本实用新型能够实现标准化生产，降低了制作成本，缩短了生产周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种集成电路对插测试结构，其特征在于：包括上端子板（1）、下端子板（2），所述上端子板（1）底面设有上对插端子（3），所述下端子板（2）的顶面设有下对插端子（4），所述上端子板（1）通过上对插端子（3）与下对插端子（4）的对插与下端子板（2）连接。
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