[实用新型]一种集成电路对插测试结构有效
| 申请号： | 201520230680.6 | 申请日： | 2015-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN204515083U | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | 王国华 | 申请（专利权）人： | 深圳市斯纳达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳国鑫联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人： | 王志强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种集成电路对插测试结构，其特征在于：包括上端子板（1）、下端子板（2），
所述上端子板（1）底面设有上对插端子（3），所述下端子板（2）的顶面设有下对插端子（4），所述上端子板（1）通过上对插端子（3）与下对插端子（4）的对插与下端子板（2）连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路对插测试结构，其特征在于：所述上对插端子（3）的端部设有供下对插端子（4）插入的插孔（5）；或者下对插端子（4）的端部设有供上对插端子（3）插入的插孔（5）。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路对插测试结构，其特征在于：所述下端子板（2）与集成电路大小一致或大小相近，下端子板（2）上设有与集成电路一样的引脚。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路对插测试结构，其特征在于：所述上端子板（1）及下端子板（2）是印制电路板。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路对插测试结构，其特征在于：所述上端子板（1）及下端子板（2）也可以是绝缘板。
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