[实用新型]一种LED测试系统有效
| 申请号： | 201520228472.2 | 申请日： | 2015-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN204536487U | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 申利莹;董木森;张君逸;潘冠甫;吴超瑜;王笃祥 | 申请（专利权）人： | 天津三安光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300384 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种LED测试系统，用以测试LED晶圆片的多个LED芯粒，其特征在于：至少包括具有点测探针的光侦测系统和具有标记探针的判定系统，所述点测探针的针头面积S1小于等于所测试LED芯粒的电极面积S2的1/4，所述标记探针的针头面积S3大于所测试LED芯粒的电极面积S2的1/4且小于所测试LED芯粒的整个面积S4。本实用新型可以有效避免传统点红墨标记测试系统可能引起良率损失和品质风险。同时，可采用多针点测或/和多针标记来提高LED测试系统的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种LED测试系统，用以测试LED 晶圆片的多个LED芯粒，其特征在于：至少包括具有点测探针的光侦测系统和具有标记探针的判定系统，所述点测探针的针头面积S1小于等于所测试LED芯粒的电极面积S2的1/4，所述标记探针的针头面积S3大于所测试LED芯粒的电极面积S2的1/4且小于所测试LED芯粒的整个面积S4。
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