[实用新型]一种测量红外焦平面模块低温形变的装置有效

专利信息
申请号: 201520167953.7 申请日: 2015-03-24
公开(公告)号: CN204514279U 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 张海燕;管建安;庄馥隆;汪洋;陈安森;龚海梅 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种测量红外焦平面模块低温形变的装置,该装置包括对窗口有特殊要求的测试杜瓦和激光干涉仪。其方法是把被测样品粘贴于真空杜瓦的冷头上,以激光干涉的方式非接触的获取样品表面形变信息,该实用新型的优点在于测试过程快速,样品温度可控,克服了传统测试方法的样品温度不稳定及表面结霜等固有困难。
搜索关键词: 一种 测量 红外 平面 模块 低温 形变 装置
【主权项】:
一种测量红外焦平面模块低温形变的装置,它包括对窗口有特殊要求的测试杜瓦和激光干涉仪,其特征在于:待测样品(6)粘贴于测试杜瓦的冷头(3)上,所述的测试杜瓦的窗口(4)的材料应对可见光透明,窗口两个面的平行度优于0.5um,激光干涉仪透过杜瓦窗口非接触地获取测样样品表面形变信息。
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