[实用新型]太赫兹焦平面阵列及检测与成像装置有效
申请号: | 201520131059.4 | 申请日: | 2015-03-06 |
公开(公告)号: | CN204405189U | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | 李志刚;欧毅;傅剑宇;尚海平;欧文;陈大鹏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01N21/3581 |
代理公司: | 北京维澳专利代理有限公司 11252 | 代理人: | 党丽;韩晓莉 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种太赫兹焦平面阵列,包括框架、悬臂梁和吸收结构;其中,吸收结构,包括依次层叠的第一金属层、第一介质层和金属方块阵列;悬臂梁,两个悬臂梁分别位于金属方块阵列的相对侧,每个悬臂梁为由纵部和横部首尾依次连接形成的多材料形变梁,其一端与框架固定连接,另一端与吸收结构固定连接。该太赫兹焦平面阵列形成了超材料的谐振腔,对能量低的太赫兹辐射有较强的吸收能力。 | ||
搜索关键词: | 赫兹 平面 阵列 检测 成像 装置 | ||
【主权项】:
一种太赫兹焦平面阵列,其特征在于,包括框架、悬臂梁和吸收结构;其中,吸收结构,包括依次层叠的第一金属层、第一介质层和金属方块阵列;悬臂梁,两个悬臂梁分别位于金属方块阵列的相对侧,每个悬臂梁为由纵部和横部首尾依次连接形成的多材料形变梁,其一端与框架固定连接,另一端与吸收结构固定连接。
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