[实用新型]金属化薄膜表面电阻检测头有效
| 申请号： | 201520121560.2 | 申请日： | 2015-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN204422654U | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 张世铎 | 申请（专利权）人： | 黄山申格电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 245000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种金属化薄膜表面电阻检测头，包括球形触头、导电柱、以及包封所述球形触头和所述导电柱的绝缘块，所述绝缘块为陶瓷制成，所述球形触头设置于所述绝缘块的底部，所述导电柱下端连接所述球形触头，所述导电柱上端连接电阻检测设备的检测线。还包括用于放置检测头的检测支架，所述检测支架包括固定底座和设置于所述固定底座上方的夹持片，所述夹持片的两端均通过安装螺栓固定连接所述固定底座，且所述夹持片上设置有检测头滑槽。本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头，能够提高检测头的电气绝缘性能，从而提高金属化薄膜表面电阻检测结果的准确性和检测作业的安全性，满足实际使用要求。 | ||
| 搜索关键词： | 金属化 薄膜 表面电阻 检测 | ||
【主权项】：
一种金属化薄膜表面电阻检测头，其特征是，包括：球形触头（11）、导电柱（12）、以及包封所述球形触头（11）和所述导电柱（12）的绝缘块（13），所述绝缘块（13）为陶瓷制成，所述球形触头（11）设置于所述绝缘块（13）的底部，所述导电柱（12）下端连接所述球形触头（11），所述导电柱（12）上端连接电阻检测设备的检测线（14）。
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