[发明专利]漂移时间离子迁移谱装置有效
| 申请号： | 201511032152.0 | 申请日： | 2015-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN105428200B | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 洪义;黄晓;於剑锋;谭国斌;朱辉;粘慧青 | 申请（专利权）人： | 广州禾信分析仪器有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06;H01J49/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄晓庆 |
| 地址： | 510530 广东省广州市广州高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种漂移时间离子迁移谱装置，包括漂移管，所述漂移管包括：第一离子门、第二离子门以及出口栅网，通过控制所述第二离子门的状态，控制在所述第一离子门与所述第二离子门之间的前漂移区电迁移后的样品离子的状态，在所述第二离子门的状态为开启状态时，所述电迁移后的样品离子通过所述第二离子门进入所述第二离子门与所述出口栅网之间的后漂移区，并通过所述出口栅网到达检测器。本发明实施例通过双离子门的设置，可以简化谱图、提高谱图信噪比、还可去除反应离子的干扰，可以在各种功能之间方便地切换，有利于对物质进行更深入的研究。 | ||
| 搜索关键词： | 漂移 时间 离子 迁移 装置 | ||
【主权项】：
1.一种漂移时间离子迁移谱装置，包括漂移管，其特征在于，所述漂移管包括：第一离子门、第二离子门以及出口栅网，第一离子门周期性地开启，让离子源与第一离子门之间的反应区中形成的样品离子以脉冲形式注入到前漂移区，通过控制所述第二离子门的状态，控制在所述第一离子门与所述第二离子门之间的前漂移区电迁移后的样品离子的状态，在所述第二离子门的状态为开启状态时，所述电迁移后的样品离子通过所述第二离子门进入所述第二离子门与所述出口栅网之间的后漂移区，并通过所述出口栅网到达检测器，通过对第二离子门的开启和关闭的时间进行控制，实现对不同离子的隔离或者去除的功能；所述装置工作在离子隔离模式时，所述第二离子门在指定离子的漂移时间处于开启状态，在所述指定离子的漂移时间之外的时间处于关闭状态；所述装置工作在串级分析模式时，所述第二离子门在指定离子通过时开启并施加高压射频，所述电迁移后的样品离子在经过所述第二离子门时发生离子碰撞诱导解离后进入所述后漂移区。
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