[发明专利]一种基于光电子全息成像探测原子结构的方法在审

专利信息
申请号: 201511000673.8 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN105548092A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 周月明;陆培祥;何明睿 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 廖盈春
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于光电子全息成像探测原子结构的方法,通过测量强激光作用于原子电离产生的光电子动量谱,分析其中的干涉结构,可以获取原子散射振幅的相位信息。包括:利用高强度的飞秒激光电离原子,测量电离得到的光电子的动量谱。分析测量到的动量谱,从全息干涉图中提取原子散射振幅的相位信息。由于目前还没有探测原子散射振幅相位信息的有效方法,本发明提出的方法将在全面认识原子结构方面有重要的应用价值。
搜索关键词: 一种 基于 光电子 全息 成像 探测 原子结构 方法
【主权项】:
一种基于光电子全息成像探测原子结构的方法,其特征在于,包括下述步骤:(1)通过中红外波段线偏振飞秒激光与待探测的原子作用激发原子电离;并获取原子的二维光电子动量谱;在所述二维光电子动量谱中,垂直于激光偏振方向上具有前向散射电子与直接电子之间产生的全息干涉结构;(2)利用移动平均法滤除所述二维光电子动量谱中平行于激光偏振方向的干涉结构,获得垂直于激光偏振方向的全息干涉结构(3)对所述垂直于激光偏振方向的全息干涉结构进行归一化处理后获得全息干涉结构附加相位cosΔφTDSE;(4)根据所述全息干涉结构附加相位cosΔφTDSE和公式计算原子散射振幅的相位α;其中,k为垂直激光偏振方向的动量,tr为散射电子的碰撞时间,ti为散射电子的电离时间。
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