[发明专利]一种光滤波器幅频响应的测量方法在审
| 申请号： | 201510890047.4 | 申请日： | 2015-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN105548686A | 公开（公告）日： | 2016-05-04 |
| 发明（设计）人： | 张尚剑;邹新海;王恒;刘俊伟;张雅丽;陆荣国;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人： | 徐金琼 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光滤波器幅频响应的测量方法，属于光电子技术领域。本发明解决了传统扫频法需要额外校准的问题，本发明采用双移频外差原理，将经过光滤波器前后的光调制边带分别与移频光载波进行外差，实现单次扫频的自校准式光滤波器幅频响应测量，具有测量精度高、测量时间短、操作方便的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 滤波器 响应 测量方法 | ||
【主权项】：
一种双移频外差结构，其特征在于：包括外移频外差仪、内移频外差仪；外移频外差仪包括分束器Ⅰ(21)和合束器Ⅰ(24)，外移频外差仪的一个臂上设置有声光移频器Ⅰ(71)；外移频外差仪的另一个臂上设置依次级联的偏振控制器(3)、电光调制器和(4)内移频外差仪；内移频外差仪包括分束器Ⅱ(22)和合束器Ⅱ(23)；内移频外差仪的两个臂上分别设置有待测滤波器(6)和声光移频器Ⅱ(72)。
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