[发明专利]一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法

摘要

本发明提供了一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法，该系统包括测试信号源、耦合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机；其中，测试通道包括发射模块、被测变频天线、第二混频模块和第三混频模块。本发明测试通道中的第二混频模块对被测变频天线输出的多频点信号进行变频处理，该混频模块的本振信号按照设定的频率列表顺序选取，并在每次接收到触发信号后轮换本振信号频率，从而实现各频点天线输出信号的分时测试，每次将其中一个频点的输出信号变频到射频发射信号频段，然后采用与参考模块相同的本振信号进行下变频，得到用于比相和比幅的中频参考信号和中频测试信号；这种测试方法可以确保链路信号的相位一致性，实现变频天线的平面近场快速扫频测试功能，提高测试效率。

主权项

一种变频天线的近场扫频测试系统，其特征在于：包括测试信号源、耦合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机，其中：测试信号源：产生射频测试信号；在接收到接收机发送的触发信号后发送所述射频测试信号到耦合模块，同时将接收到的触发信号转发到测试通道和参考通道；其中，所述射频测试信号的发射频率为f_RF；耦合模块：接收测试信号源发送的射频测试信号，对所述信号进行功率放大后分成两路，其中一路发送到参考通道，另一路发送测试通道；参考通道：包括第一混频模块；所述第一混频模块在接收到测试信号源转发的触发信号后，对接收到的射频测试信号进行下变频，得到中心频率为f_IF的中频参考信号，并发送所述中频参考信号到接收机；测试通道：包括发射模块、被测的变频天线、第二混频模块和第三混频模块；所述发射模块接收耦合模块发送的射频测试信号，然后在设定的波束测试位置将所述射频测试信号向外辐射至自由空间；被测的变频天线接收发射模块辐射出的信号，进行变频处理后输出包括N个频点的信号到第二混频模块；第二混频模块接收测试信号源转发的触发信号，然后在设定的频率列表中按顺序选取本振信号频率，对接收信号进行变频处理，输出变频后信号到第三变频模块；第三混频模块对接收到信号进行变频处理后，输出中心频率为f_IF的中频测试信号到接收机；接收机：发送触发信号到测试信号源，并接收参考通道发送的中频参考信号，以及测试通道发送的中频测试信号；将所述中频参考信号和中频测试信号进行比幅和比相处理，得到被测变频天线在所述波束测试位置上的接收信号的幅度和相位，然后发送所述波束测试位置、接收信号幅度和相位到控制计算机，同时发送下一个触发信号到测试信号源；控制计算机：接收接收机发送的波束测试位置、接收信号幅度和相位，进行保存和数据处理。