[发明专利]一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法在审
| 申请号: | 201510843306.8 | 申请日: | 2015-11-26 |
| 公开(公告)号: | CN105515690A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
| 发明(设计)人: | 刘灵鸽;马玉丰;焦婧;赵兵;张启涛;崔雷 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号: | H04B17/12 | 分类号: | H04B17/12;H04B17/24;H04B1/00;H04B1/52 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 范晓毅 |
| 地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 变频 天线 近场 测试 系统 及其 方法 | ||
1.一种变频天线的近场扫频测试系统,其特征在于:包括测试信号源、耦 合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机,其中:
测试信号源:产生射频测试信号;在接收到接收机发送的触发信号后发送 所述射频测试信号到耦合模块,同时将接收到的触发信号转发到测试通道和参 考通道;其中,所述射频测试信号的发射频率为fRF;
耦合模块:接收测试信号源发送的射频测试信号,对所述信号进行功率放 大后分成两路,其中一路发送到参考通道,另一路发送测试通道;
参考通道:包括第一混频模块;所述第一混频模块在接收到测试信号源转 发的触发信号后,对接收到的射频测试信号进行下变频,得到中心频率为fIF的 中频参考信号,并发送所述中频参考信号到接收机;
测试通道:包括发射模块、被测的变频天线、第二混频模块和第三混频模 块;所述发射模块接收耦合模块发送的射频测试信号,然后在设定的波束测试 位置将所述射频测试信号向外辐射至自由空间;被测的变频天线接收发射模块 辐射出的信号,进行变频处理后输出包括N个频点的信号到第二混频模块;第 二混频模块接收测试信号源转发的触发信号,然后在设定的频率列表中按顺序 选取本振信号频率,对接收信号进行变频处理,输出变频后信号到第三变频模 块;第三混频模块对接收到信号进行变频处理后,输出中心频率为fIF的中频测 试信号到接收机;
接收机:发送触发信号到测试信号源,并接收参考通道发送的中频参考信 号,以及测试通道发送的中频测试信号;将所述中频参考信号和中频测试信号 进行比幅和比相处理,得到被测变频天线在所述波束测试位置上的接收信号的 幅度和相位,然后发送所述波束测试位置、接收信号幅度和相位到控制计算机, 同时发送下一个触发信号到测试信号源;
控制计算机:接收接收机发送的波束测试位置、接收信号幅度和相位,进 行保存和数据处理。
2.根据权利要求1所述的一种变频天线的近场扫频测试系统,其特征在 于:如果被测的变频天线输出信号的N个频点的频率分别为f1、f2、…、fN, 则第二混频模块的本振信号频率依次选取为f1-fRF、f2-fRF、…、fN-fRF,即 设定的频率列表的频率按顺序排列依次为f1-fRF、f2-fRF、…、fN-fRF;并且 第二混频模块对混频后信号进行滤波处理,选取差频信号输出,即得到中心频 率为fRF的混频输出信号。
3.根据权利要求1或2所述的一种变频天线的近场扫频测试系统,其特 征在于:第一混频模块和第三混频模块的本振信号频率为fRF-fIF,两个混频模 块对混频后信号进行滤波处理,选取差频信号输出,即得到中心频率为fIF的中 频信号。
4.根据权利要求3所述的一种变频天线的近场扫频测试系统,其特征在 于:第一混频模块和第二混频模块采用系统本振信号源提供本振信号;第二混 频模块具有独立的外置本振信号源,所述外置本振信号源按照设定的频率列表 选取本振频率。
5.根据权利要求4所述的一种变频天线的近场扫频测试系统,其特征在 于:控制计算机发送控制指令到所述系统本振信号源和外置本振信号源,以及 测试信号源,三个所述信号源根据接收到的控制指令设置发射信号的频率和功 率。
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