[发明专利]一种微位移测试系统用微处理器外围电路有效
| 申请号： | 201510829864.9 | 申请日： | 2015-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN105487954B | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 李荣正;戴国银;李慧妍 | 申请（专利权）人： | 上海工程技术大学 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 | 代理人： | 屠轶凡 |
| 地址： | 201620 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微位移测试系统用微处理器外围电路，用于连接微处理器，包括晶振电路和复位电路；所述晶振电路包括：与所述微处理器XTAL1接口和XTAL2接口连接的无源晶振，连接在所述微处理器的XTAL1接口和接地端之间的电容C19，连接在所述微处理器的XTAL2接口和接地端之间的电容C20；所述复位电路包括连接在所述微处理器的RST接口与+5V电源之间的极性电容E17,以及连接在所述微处理器的RST接口和接地端之间的电阻R9；其中所述极性电容E17的正极连接+5V电源，负极连接所述微处理器的RST接口。其技术效果是：其能够保证微处理器输出稳定的方波信号，同时防止微处理器发出错误的指令或执行错误操作，提高微处理器的电磁兼容性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 位移 测试 系统 微处理器 外围 电路 | ||
【主权项】：
1.一种用于微位移测试系统的微处理器外围电路，用于连接微处理器，包括晶振电路、复位电路和按键中断电路；其特征在于：所述晶振电路包括与所述微处理器的XTAL1接口和XTAL2接口连接的无源晶振，连接在所述微处理器的XTAL1接口和接地端之间的电容C19，以及连接在所述微处理器的XTAL2接口和接地端之间的电容C20；所述复位电路包括连接在所述微处理器的RST接口与+5V电源之间的极性电容E17,以及连接在所述微处理器的RST接口和接地端之间的电阻R9；其中所述极性电容E17的正极连接+5V电源，负极连接所述微处理器的RST接口；所述按键中断电路包括用于连接所述微处理器的INO3.2接口、INI3.3接口和GND接口的开关K1，连接所述微处理器的INO3.2接口和接地端的电容C12，以及连接所述微处理器的INO3.2接口和+5V电源的电阻R21；所述微处理器的GND接口接地；所述用于微位移测试系统的微处理器外围电路还包括连接在所述微处理器的VCC接口和+5V电源之间的、相互并联设置的电解电容和陶瓷电容；所述无源晶振的晶振频率为20MHz；所述微处理器的P3.4接口作为方波输出端，所述微处理器的P3.4接口和多重反馈有源带通滤波器的输入端相连，为多重反馈有源带通滤波器提供2.5kHz的方波信号，由于该方波信号由所述微处理器定时输出，而微处理器的时钟由所述无源晶振提供，所以该方波信号由晶振信号分频而来。
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