[发明专利]强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法在审

专利信息
申请号: 201510819664.5 申请日: 2015-11-23
公开(公告)号: CN105466910A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 罗良红;唐继鲜;彭文利;林晶;邹东清 申请(专利权)人: 成都光明光电股份有限公司
主分类号: G01N21/73 分类号: G01N21/73
代理公司: 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 代理人: 蒲敏
地址: 610100 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种能够快速准确测量强化弥散铂金中单质锆元素及氧化锆的含量的方法。强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法,该方法包含以下步骤:1)称取强化弥散铂金,加入王水,进行溶解;2)溶解后蒸发,加盐酸过滤出未溶解的氧化锆,将滤液移入容量瓶中并用纯水稀释至刻度,作为单质锆元素的样品;3)将滤出的氧化锆连同滤纸一起放入坩埚中,放置电炉灰化,然后加入硫酸铵以及硫酸,溶解并冷却后,将液体移入容量瓶中并用纯水稀释至刻度,作为氧化锆含量的样品;4)建立标准曲线;5)测试;6)计算。本发明将强化弥散铂金溶解后,通过等离子体发射光谱仪,可以快速准确测定其中单质锆元素及氧化锆的含量,提高了测试准确度和分析效率。
搜索关键词: 强化 弥散 铂金 氧化锆 含量 测量方法
【主权项】:
强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法,其特征在于,该方法包含以下步骤:1)称取强化弥散铂金0.5‑2g,加入20‑40mL王水,在120‑180℃温度进行溶解;2)溶解后蒸发至近干,加10‑20毫升盐酸过滤出未溶解的氧化锆,将滤液移入容量瓶中并用纯水稀释至刻度,作为待测强化弥散铂金中的单质锆元素的样品1;3)将步骤2)滤出的氧化锆连同滤纸一起放入坩埚中,放置电炉灰化,然后加入硫酸铵0.5‑2g以及硫酸3‑5mL,溶解并冷却后,将液体移入容量瓶中并用纯水稀释至刻度,作为待测强化弥散铂金中的氧化锆含量的样品2;4)建立标准曲线选用Zr元素含量为1000ug/mL的标准原液,逐级稀释配置成含量为10μg/mL、30μg/mL、100μg/mL的标准溶液;5)测试选择锆元素的特征分析波长分别为343.823nm,339.197nm、257.139nm,采用等离子体发射光谱仪输入步骤4)中配制的标准溶液的个数和标准值,建立各杂质元素的标准曲线,在此基础上测试样品,其中样品1的值C1,样品2的值C2,同时根据溶解样品使用酸的不同得到的试剂空白分别为C0和C0/,并按照相同测试条件进行测试试剂空白;6)计算强化弥散铂金中金属锆的含量(mg/kg)=(C1‑C0)×K式中:C‑‑用ICP测定的样品的待测元素的含量,μg/mL;C0‑‑用ICP测定王水介质的试剂空白的待测元素的含量,μg/mL;K‑‑表示样品的稀释倍数,本方法中设置为100;强化弥散铂金中氧化锆的含量(mg/kg)=(C2‑C0/)×K×1.3509式中:C‑‑用ICP测定的样品的待测元素的含量,μg/mL;C0/‑‑用ICP测定硫酸介质的试剂空白的待测元素的含量,μg/mL;K‑‑表示样品的稀释倍数,本发明方法中设置为100;1.3509‑‑将单质锆换算成氧化锆的系数。
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