[发明专利]强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法在审
| 申请号: | 201510819664.5 | 申请日: | 2015-11-23 |
| 公开(公告)号: | CN105466910A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
| 发明(设计)人: | 罗良红;唐继鲜;彭文利;林晶;邹东清 | 申请(专利权)人: | 成都光明光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73 |
| 代理公司: | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 | 代理人: | 蒲敏 |
| 地址: | 610100 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 强化 弥散 铂金 氧化锆 含量 测量方法 | ||
1.强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法,其特征在于,该方法包含 以下步骤:
1)称取强化弥散铂金0.5-2g,加入20-40mL王水,在120-180℃温度进行 溶解;
2)溶解后蒸发至近干,加10-20毫升盐酸过滤出未溶解的氧化锆,将滤液 移入容量瓶中并用纯水稀释至刻度,作为待测强化弥散铂金中的单质锆元素的样 品1;
3)将步骤2)滤出的氧化锆连同滤纸一起放入坩埚中,放置电炉灰化,然后 加入硫酸铵0.5-2g以及硫酸3-5mL,溶解并冷却后,将液体移入容量瓶中并用 纯水稀释至刻度,作为待测强化弥散铂金中的氧化锆含量的样品2;
4)建立标准曲线
选用Zr元素含量为1000ug/mL的标准原液,逐级稀释配置成含量为10μ g/mL、30μg/mL、100μg/mL的标准溶液;
5)测试
选择锆元素的特征分析波长分别为343.823nm,339.197nm、257.139nm, 采用等离子体发射光谱仪输入步骤4)中配制的标准溶液的个数和标准值,建立 各杂质元素的标准曲线,在此基础上测试样品,其中样品1的值C1,样品2的值 C2,同时根据溶解样品使用酸的不同得到的试剂空白分别为C0和C0/,并按照相同 测试条件进行测试试剂空白;
6)计算
强化弥散铂金中金属锆的含量(mg/kg)=(C1-C0)×K
式中:
C--用ICP测定的样品的待测元素的含量,μg/mL;
C0--用ICP测定王水介质的试剂空白的待测元素的含量,μg/mL;
K--表示样品的稀释倍数,本方法中设置为100;
强化弥散铂金中氧化锆的含量(mg/kg)=(C2-C0/)×K×1.3509
式中:
C--用ICP测定的样品的待测元素的含量,μg/mL;
C0/--用ICP测定硫酸介质的试剂空白的待测元素的含量,μg/mL;
K--表示样品的稀释倍数,本发明方法中设置为100;
1.3509--将单质锆换算成氧化锆的系数。
2.如权利要求1所述的强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法,其特 征在于,所述步骤1)为:称取强化弥散铂金0.5-2g,于烧杯中加入20-40mL王 水,盖上表面皿,放置在电热板上用120-180℃温度进行溶解。
3.如权利要求1所述的强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法,其特 征在于,所述步骤3)为:将步骤2)滤出的氧化锆连同滤纸一起放入石英坩埚 中,放置电炉700-800℃灰化,然后加入硫酸铵0.5-2g以及硫酸3-5mL于电热 板上用160-180℃温度进行溶解;冷却后,将液体移入容量瓶中并用纯水稀释至 刻度,作为待测强化弥散铂金中的氧化锆含量的样品2。
4.如权利要求1所述的强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法,其特 征在于,所述步骤5)中等离子体发射光谱仪,开机前先检查主机与计算机连接 是否正常,确认冷却水开启并处于正常状态,确认空压机开启并正常,都满足后 打开主机。
5.如权利要求1所述的强化弥散铂金中锆及氧化锆含量的测量方法,其特 征在于,所述步骤5)中等离子体发射光谱仪的仪器测试条件为:确定所使用的 氩气纯度为≥99.99%,调节氩气瓶减压器至氩气压力在0.5-0.8MPa范围内,并 保证气瓶内氩气压力不低于1MPa。
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