[发明专利]一种基于彩色光栅的快速三维立体重建方法在审

专利信息
申请号: 201510819074.2 申请日: 2015-11-20
公开(公告)号: CN105300319A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 杜娟;谭健胜;冯颖;陈雅 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 罗观祥
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于彩色光栅的快速三维立体重建方法,包括如下步骤:S1在三维立体视觉系统中,获取标定图像,所述三维立体视觉系统包括摄像机、投影仪、工作平台及计算机;S2设计彩色光栅投影条纹;S3在三维立体视觉系统中,打开投影仪,拍摄在无待测芯片的彩色光栅投影背景图,把待测芯片放置在工作平台上,将彩色光栅投影到待测芯片上,采集包含待测芯片的彩色光栅投影图;S4采用改进的双边滤波算法对包含待测芯片的彩色光栅投影图进行滤波;S5对滤波后的包含待测芯片的彩色光栅投影图进行灰度化;S6采用占宽比例法计算条纹差值,进一步得到偏移距离,本发明达到了工业产品缺陷检测的精度要求和实时性要求。
搜索关键词: 一种 基于 彩色 光栅 快速 三维立体 重建 方法
【主权项】:
一种基于彩色光栅的快速三维立体重建方法,其特征在于,包括如下步骤:S1在三维立体视觉系统中,获取标定图像,所述三维立体视觉系统包括摄像机、投影仪、工作平台及计算机;S2设计彩色光栅投影条纹;S3在三维立体视觉系统中,打开投影仪,拍摄在在无待测芯片的彩色光栅投影背景图,把待测芯片放置在工作平台上,将彩色光栅投影到待测芯片上,采集包含待测芯片的彩色光栅投影图;S4采用改进的双边滤波算法对包含待测芯片的彩色光栅投影图进行滤波;S5对滤波后的包含待测芯片的彩色光栅投影图进行灰度化;S6采用占宽比例法计算条纹差值,进一步得到偏移距离,计算公式为d=n*β,d为偏移距离,β为光栅条纹的宽度,n则为条纹偏移的差值,所述β在系统标定时通过光栅设计直接获得;S7根据彩色光栅投影三维数学模型进行高度恢复。
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