[发明专利]适用于TBC脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法在审
| 申请号： | 201510794804.8 | 申请日： | 2015-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN105301051A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 刘战伟;石文雄;朱文颖;谢惠民 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 北京市天玺沐泽专利代理事务所(普通合伙) 11532 | 代理人： | 鲍晓 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开适用于TBC脱粘缺陷快速检测的线激光扫描热波成像方法，包括：优化设计快速移动的线激光作为线状热源，使用所述线状热源在TBC试件表面进行扫描激励，在粗扫检测阶段对试件表面进行大范围线状快速扫描，采集获得粗扫检测阶段的热红外图像，并进行热红外图像分析；对于发现疑似缺陷的微区域进行细扫描，获得细扫检测阶段的热红外图像。本发明不仅能对检测出TBC的脱粘缺陷，而且具有较高的精度，检测时不会对TBC造成破坏，操作简便且具有较高效率，还能对系统采集的图片进行后处理。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 tbc 缺陷 快速 检测 激光 扫描 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种适用于TBC脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法，其特征在于，包括：优化设计快速移动的线激光作为线状热源，使用所述线状热源在TBC试件表面进行扫描激励，在粗扫检测阶段对试件表面进行大范围线状快速扫描，采集获得粗扫检测阶段的热红外图像，并进行热红外图像分析；对于发现疑似缺陷的微区域进行细扫描，获得细扫检测阶段的热红外图像；对于所述粗扫检测阶段的热红外图像：进行热红外图像后处理，得到全场范围的缺陷响应温度场图像和全场范围的去除噪音热响应后的缺陷响应温度场图像；采用自适应变权重滤窗方法，得到全场范围去除包括边缘噪音在内所有噪音影响的缺陷响应温度场图像；对于所述细扫检测阶段的热红外图像：按照瞬态微面热源脉冲激励的处理方法，对采集到的某时间序列内的温度图像进行傅里叶变换，得到微区域内给定频率下的仅含缺陷响应的振幅场和相位场。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学，未经北京理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510794804.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种采用离子选择电极法的液体分析方法和装置
- 下一篇：羽毛羽绒pH值检测方法
