[发明专利]一种测量不完整孔的光面塞规及其设计方法在审
| 申请号： | 201510696117.2 | 申请日： | 2015-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN105222663A | 公开（公告）日： | 2016-01-06 |
| 发明（设计）人： | 孙洁;郭相峰;薛波;党红武;苏琳;王荣;王茂民;牛阿妮 | 申请（专利权）人： | 西安航空动力股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B3/50 | 分类号： | G01B3/50 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710021 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量不完整孔的光面塞规及其设计方法，所述的光面塞规，包括塞规本体；所述的塞规本体是由一端定位部、中间测量部和另一端手持部组成的台阶式圆柱形结构；所述的测量部包括通端和止端，通端和止端分别为小半圆柱面结构与大半圆柱面结构，且通端和止端同心设置，通端的半径大于定位部的半径。该塞规的尺寸计算简单、易懂，结构简单，制造容易，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 完整 光面 塞规 及其 设计 方法 | ||
【主权项】：
一种测量不完整孔的光面塞规，其特征在于，包括塞规本体(3)；所述的塞规本体(3)是由一端定位部(4)、中间测量部(5)和另一端手持部(6)组成的台阶式圆柱形结构；所述的测量部(5)包括通端(7)和止端(8)，通端(7)和止端(8)分别为小半圆柱面结构与大半圆柱面结构，且通端(7)和止端(8)同心设置，通端(7)的半径大于定位部(4)的半径；使用时，定位部(4)插入零件的底孔(1)，用测量部(5)对零件的待测孔(2)进行测量，要求通端(7)能够置于待测孔(2)内且止端(8)不能置于待测孔(2)内。
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