[发明专利]应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置有效
申请号: | 201510694675.5 | 申请日: | 2015-10-21 |
公开(公告)号: | CN105718850B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 于泽 | 申请(专利权)人: | 深圳芯启航科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置,其中,上述像素点采样方法包括:在指纹传感器的每轮像素点采样中,对各个像素点进行N次采样,并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道,其中,所述N等于所述指纹传感器进行像素点采样时采用的模拟前端通道的总数;针对所述指纹传感器的每个像素点,将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均,得到相应像素点的本轮采样结果;输出各个像素点的本轮采样结果。本发明提供的技术方案能够有效消除指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性。 | ||
搜索关键词: | 应用于 指纹 传感器 像素 采样 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种应用于指纹传感器的像素点采样方法,其特征在于,包括:在指纹传感器的每轮像素点采样中,按照预设的起始采样位置对各个像素点进行N次采样,并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道,其中,所述N等于所述指纹传感器进行像素点采样时采用的模拟前端通道的总数;针对所述指纹传感器的每个像素点,将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均,得到相应像素点的本轮采样结果;输出各个像素点的本轮采样结果。
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