[发明专利]基于数字滤波的圆锥滚子倒装缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201510635100.6 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN105115987B 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 徐巧玉;王军委;王已伟;王红梅;李坤鹏;毛鹏;周新稳 申请(专利权)人: 河南科技大学
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙)41120 代理人: 孙笑飞
地址: 471000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开一种基于数字滤波的圆锥滚子倒装缺陷检测方法,1、采集圆锥滚子轴承图像,并对其进行预处理,2、定位圆锥滚子轴承的滚动体环带区域,3、在极坐标系中,提取滚动体环带区域图像信息的像素统计信号,4、对所述像素统计信号用FIR低通滤波器进行高频滤波,其抽样响应是对理想低通滤波器的抽样响应加上海明窗以截断成有限长,5、对高频滤波后的像素统计信号用高通滤波器滤除低频干扰信息,6、设定阈值,分割缺陷部分与其他部分,提取缺陷滚动体的准确位置,本发明采用FIR的高频滤波和基于FFT变换的低频滤波分别去除滚子自身结构和其他干扰,定位圆锥滚子倒装缺陷的位置,检测率高,检测速度快,成本低。
搜索关键词: 基于 数字 滤波 圆锥 滚子 倒装 缺陷 检测 方法
【主权项】:
基于数字滤波的圆锥滚子倒装缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、采集圆锥滚子轴承图像,并对其进行预处理;步骤2、定位圆锥滚子轴承的滚动体环带区域;步骤3、在极坐标系中,提取滚动体环带区域图像信息的像素统计信号;步骤4、对所述像素统计信号用FIR低通滤波器进行高频滤波,FIR低通滤波器的单位抽样响应是对理想低通滤波器的抽样响应加上海明窗以截断成有限长;步骤5、对高频滤波后的像素统计信号用高通滤波器滤除其中的低频干扰信息,先进行FFT变换将像素统计信号变换到频域,在频域内剔除低频数据点,再经IFFT变换将低频点剔除的频域像素统计信号变换到时域,重构时域的像素统计信号;步骤6、设定阈值,对重构的像素统计信号分割缺陷部分与其他部分,提取出轴承中缺陷滚动体的准确位置与个数。
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