[发明专利]X波段用高品质因数微波介质陶瓷及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510579555.0 申请日: 2015-09-11
公开(公告)号: CN105174956A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 李玲霞;吕笑松;孙浩;叶静;李赛;张帅 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C04B35/495 分类号: C04B35/495;C04B35/622
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 张宏祥
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种X波段用高品质因数微波介质陶瓷,化学计量式为(1-x)(Mg0.96Zn0.04)4Ta2O9+xTiO2,其中0≤x≤0.55。先将化学原料MgO、ZnO、Ta2O5按(Mg0.96Zn0.04)4Ta2O9化学计量比称量配料;经球磨罐、烘干、过筛,于1200℃预烧,合成熔块;再在熔块中外加质量百分比为1.05%的聚乙烯醇粉体,然后按(1-x)(Mg0.96Zn0.04)4Ta2O9+xTiO2,其中0≤x≤0.55化学计量比加入TiO2粉体,经二次球磨罐、烘干、过筛后压制成型为坯体;坯体于1400~1440℃烧结,保温4小时,制成具有高品质因数的X波段用微波介质陶瓷材料。本发明具有高的品质因数Q值,谐振频率温度系数近零,相对介电常数低,可广泛应用于移动通信、卫星通信、GPS全球卫星定位系统以及X波段雷达探测系统等现代微波技术领域,且工艺简单,过程无污染,具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 波段 品质因数 微波 介质 陶瓷 及其 制备 方法
【主权项】:
一种X波段用高品质因数微波介质陶瓷,其化学计量式为(1‑x)(Mg0.96Zn0.04)4Ta2O9+xTiO2,其中0≤x≤0.55。该X波段用高品质因数微波介质陶瓷采用简单的传统固相反应法制备,具体步骤如下:(1)将化学原料氧化镁MgO、氧化锌ZnO、五氧化二钽Ta2O5分别按(Mg0.96Zn0.04)4Ta2O9化学计量比称量配料;(2)将步骤(1)配制的粉料混合后放入球磨罐中,加入氧化锆球和酒精,球磨12小时;再将球磨后的原料烘干,过40目筛,获得颗粒均匀的粉料;(3)将步骤(2)处理后的粉料于1200℃预烧,保温3小时,合成熔块;(4)在步骤(3)预烧处理后的熔块中外加质量百分比为1.05%的聚乙烯醇即PVA粉体,然后按(1‑x)(Mg0.96Zn0.04)4Ta2O9+xTiO2,其中0≤x≤0.55化学计量比加入二氧化钛TiO2粉体,放入球磨罐中,加入氧化锆球和酒精,球磨24小时,烘干后过80目筛,再压制成型为坯体;(5)将步骤(4)成型后的坯体于1400~1440℃烧结,保温4小时,制成具有高品质因数的X波段用微波介质陶瓷材料。
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