[发明专利]光学量测装置以及间隙量测方法在审
申请号: | 201510537461.7 | 申请日: | 2015-08-28 |
公开(公告)号: | CN106482653A | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 刘冠贤;高定甲;洪颢庭;王一鸥;蔡侑宏;黄渤弘 | 申请(专利权)人: | 华硕电脑股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 马雯雯,臧建明 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭示一种光学量测装置以及间隙量测方法,用以量测电子装置的间隙。光学量测装置包括图像捕获设备以及图像处理装置。图像捕获设备用以获取包括间隙的图像画面。电子装置包括装置本体以及与装置本体组装的装置元件。电子装置的间隙存在于装置本体及装置元件之间。图像处理装置耦接至图像捕获设备。图像处理装置用以接收图像画面,并且对图像画面进行图像扫描操作,以量测间隙的宽度。本发明可快速地提供精准的量测结果。 | ||
搜索关键词: | 光学 装置 以及 间隙 方法 | ||
【主权项】:
一种光学量测装置,用以量测电子装置的至少一间隙,其特征在于,其中所述电子装置包括装置本体以及与所述装置本体组装的装置元件,且所述间隙存在于所述装置本体及所述装置元件之间,所述光学量测装置包括:图像捕获设备,用以获取包括所述间隙的至少一图像画面;以及图像处理装置,耦接至所述图像捕获设备,用以接收所述图像画面,并且对所述图像画面进行图像扫描操作,以量测所述间隙的宽度。
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