[发明专利]一种存储器寿命测试算法

摘要

一种存储器寿命测试算法，存储器寿命测试程序中加入计算器单元，根据存储器数据手册设定额定寿命上限，再设定至少2倍额定寿命上限的极限寿命上限；如读写次数大于极限寿命上限，则判定存储器失效；如读写次数未超过极限寿命上限，则测试极限寿命上限加一次测试次数的测试总次数，然后连续对存储器的存储区域进行读写操作，每次写入的固定长度的数据都不同，并记录总的操作次数、总的写入错误次数、总的读取错误次数，测试总次数测试完成后，判定读写错误次数是否超过测试总次数的60%，如超过，判定存储器失效；如未超过，判定存储器未失效；本发明为批量供货的存储器寿命的检验，电能表的数据可靠性测试和表计存储算法提供了可靠、有力的依据。

主权项

一种存储器寿命测试算法，其特征在于，存储器寿命测试程序中加入计算器单元，根据存储器的数据手册设定额定寿命上限，再设定至少2倍额定寿命上限的极限寿命上限，步骤如下：步骤a）：存储器寿命测试程序对存储器进行检测，检测其读写次数是否超过极限寿命上限，如果读写次数超过极限寿命上限，则认定存储器失效，达到最大擦写寿命；如读写次数未超过极限寿命上限，则测试极限寿命上限的测试次数并增加一次测试次数，然后进入步骤b；步骤b）：在存储器中写入固定长度的数据，如写入不成功，则判定写入错误，返回重新写入固定长度的数据，如写入成功，进入步骤c；步骤c）：在存储器中读取固定长度的数据，如读取不成功，则判定读取错误，返回进入步骤b；如读取成功，则进入步骤d；步骤d）：读取成功，判定写入固定长度的数据与读取固定长度的数据是否一致，如一致，则读写成功，返回进入步骤b；如不一致，则进入步骤c；如写入固定长度的数据与读取固定长度的数据连续出现若干次写入与读取不一致，则读取存储器中若干次读取的固定长度的数据，并判断若干次读取的固定长度的数据是否一致，如一致，则判定写入错误，返回进入步骤b，如不一致，则判定读取错误，返回进入步骤b；步骤e）：极限寿命上限的测试次数加一次测试次数的测试总次数测试完成后，读取读写错误次数，并判定读写错误次数是否超过测试总次数的60%，如超过，则判定存储器失效，达到最大擦写寿命；如未超过，则判定存储器未失效。