[发明专利]一种基于卡尔曼滤波对二次平台线阵CCD测量倾角进行优化的方法有效
申请号: | 201510474959.3 | 申请日: | 2015-08-05 |
公开(公告)号: | CN105180966B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 陈兴林;杜靖;刘宇维;王岩 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;B64G7/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 | 代理人: | 杨立超 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种基于卡尔曼滤波对二次平台线阵CCD测量倾角进行优化的系统及方法,本发明涉及基于卡尔曼滤波对二次平台线阵CCD测量倾角进行优化的系统及方法。本发明的目的是为了解决现有单纯采用线阵CCD对平台倾角进行测量时,测量结果精度低的问题。通过以下技术方案实现的步骤一、高速旋转电机带动半导体激光器旋转,得到线阵CCD感光器件上光点的高度数据;步骤二、选取相邻的3个线阵CCD感光器件上光点的高度数据记,确定一个平面记为平面ABC,根据三点坐标可求得平面的法线方向矢量,求得θ;步骤三、采用卡尔曼滤波对夹角θ进行递推校正,得出t时刻的实际倾角。本发明应用于二次平台倾角测量领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 卡尔 滤波 二次 平台 ccd 测量 倾角 进行 优化 方法 | ||
【主权项】:
一种基于卡尔曼滤波对二次平台线阵CCD测量倾角进行优化的方法,其特征在于,一种基于卡尔曼滤波对二次平台线阵CCD测量倾角进行优化的方法具体是按照以下步骤进行的:步骤一、高速旋转电机带动半导体激光器旋转,扫描以高速旋转电机为中心,直径为1~5米范围内的线阵CCD,在线阵CCD感光器件上留下不同高度的光点,通过线阵CCD确定线阵CCD感光器件上光点的成像中心坐标,得到线阵CCD感光器件上光点的高度数据;其中,所述高速为大于等于10000r/min;步骤二、选取相邻的3个线阵CCD感光器件上光点的高度数据记为线阵CCD上3个点的空间坐标,即A(x1,y1,z1),B(x2,y2,z2),C(x3,y3,z3),x1为A点在x轴上的坐标,y1为A点在y轴上的坐标,z1为A点在z轴上的坐标,x2为B点在x轴上的坐标,y2为B点在y轴上的坐标,z2为B点在z轴上的坐标,x3为C点在x轴上的坐标,y3为C点在y轴上的坐标,z3为C点在z轴上的坐标;以A(x1,y1,z1),B(x2,y2,z2),C(x3,y3,z3)三点确定一个平面记为平面ABC,根据三点坐标可求得平面ABC的法线方向矢量(a,b,c),进而可求得该平面与水平面的夹角θ;步骤三、采用卡尔曼滤波对夹角θ进行递推校正,得出t时刻的实际倾角θ(t|t);具体过程为:建立一个离散的过程控制动态系统,设t时刻的过程控制动态系统的状态空间模型为:θ(t)=aθ(t‑1)+bU(t)+W(t) (1)t时刻过程控制动态系统的测量值为:θz(t)=Hθ(t)+V(t) (2)式中,θ(t‑1)为t‑1时刻的过程控制动态系统状态,t为整数;θ(t)为t时刻的过程控制动态系统状态;U(t)为t时刻的控制量;a为线阵CCD水平测量系统的第一个参数;b为线阵CCD水平测量系统的第二个参数;θz(t)为t时刻过程控制动态系统的测量值;W(t)为t时刻过程控制动态系统噪声,协方差阵为Q;V(t)为t时刻过程控制动态观测噪声,协方差阵为R;H为测量过程控制动态系统的参数;利用过程控制动态系统的状态空间模型(1)预测t时刻的值,具体过程为:根据t‑1时刻的过程控制动态系统状态预测t时刻的值,见公式(3):θ(t|t‑1)=aθ(t‑1|t‑1)+bU(t) (3)式中,θ(t|t‑1)为根据t‑1时刻预测的t时刻的预测值;θ(t‑1|t‑1)为t‑1时刻的状态最优的结果;U(t)为t时刻的控制量;若只有过程控制动态系统的控制量,则U(t)值为零;用P(t|t‑1)表示θ(t|t‑1)对应的协方差P(t|t‑1)=aP(t‑1|t‑1)aT+Q (4)式中,P(t‑1|t‑1)为θ(t‑1|t‑1)对应的协方差;aT为a的转置矩阵;Q为过程控制动态系统过程的协方差;根据公式(2)和公式(3)求出t时刻的实际倾角θ(t|t),见式(5)θ(t|t)=θ(t|t‑1)+Kg(t)[θz(t)‑Hθ(t|t‑1)] (5)式中,Kg(t)为卡尔曼增益;Kg(t)=P(t|t‑1)HT/[HP(t|t‑1)HT+R] (6)式中,HT为H的转置矩阵,R为噪声的协方差矩阵;通过公式(5),(6)得出了t时刻的实际倾角θ(t|t),更新t时刻的实际倾角θ(t|t)的协方差,P(t|t)=[In‑Kg(t)H]P(t|t‑1) (7)设线阵CCD水平测量系统的第一个参数a=1;线阵CCD水平测量系统的第二个参数b=1,控制量U(t)=ωtΔt,将a=1,b=1带入公式(3)、(4)既得公式(8)、(9):θ(t|t‑1)=θ(t‑1|t‑1)+ωtΔt (8)P(t|t‑1)=P(t‑1|t‑1)+Q (9)式中,ωt为二次平台转速;P(t|t‑1)为θ(t|t‑1)对应的协方差;P(t‑1|t‑1)为θ(t‑1|t‑1)对应的协方差;取H值为1,并结合式(8)和式(9),式(5)(6)(7)改为:θ(t|t)=θ(t|t‑1)+Kg(t)[θz(t)‑θ(t|t‑1)] (10)Kg(t)=P(t|t‑1)/[P(t|t‑1)+R] (11)P(t|t)=[In‑Kg(t)]P(t|t‑1) (12)式中,θ(t|t)为t时刻的实际倾角,Kg(t)为卡尔曼增益,θz(t)为t时刻过程控制动态系统的测量值,R为V(t)的协方差阵,P(t|t)为θ(t|t)对应的协方差,In为单位矩阵。
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