[发明专利]一种用于光纤倒像器表面缺陷的检测方法

摘要

本发明公开一种用于光纤倒像器表面缺陷的检测方法，步骤包括：(1)、获取原始图像，从原始图像中分离出光纤倒像器的成像区域；(2)、得到平均亮度图像，在分离出的图像范围内，求所有像素的灰度平均值；(3)、图像之间求差，用得到的灰度平均值去减分离出图像范围内每个像素的灰度值，得到其差值图像；(4)、差图二值化，用设定的阈值对分离出范围内的差值图像进行二值化处理，得到的白色区域即为分割出来的缺陷；(5)、缺陷分析与标注，对白色区域进行几何、统计分析，得出缺陷大小、个数等检测数据；(6)、得出结论并存储数据，根据设定的质量检测标准，判断产品是否合格，同时保存检测数据，完成检测。检测实现了数字化和自动化。

主权项

1.一种用于光纤倒像器表面缺陷的检测方法，其特征在于：具体步骤包括：/n(1)、获取原始图像，从原始图像中分离出光纤倒像器的成像区域，以下处理步骤均只针对成像区域中的图像，具体包括：先将光源、相机和镜头的几何位置固定，相机的成像范围也随之固定，光源和镜头采用工业光源和工业镜头，相机采用的工业相机，为1000万像素以上的高分辨率、35毫米全画幅靶面的工业相机，此时打开光源提前采集一张没有检测物体的模板图像M(x，y)，存入计算机中备用，在光源同样的照明条件下，每次检测时放入直径35毫米以下被检物体光纤倒像器，采集得到的图像记为F(x，y)，调用计算机中储存的模板图像M(x，y)与F(x，y)相减，二者差值不为0的地方构成的区域即为检测物体区域，也即光纤倒像器的表面图像区域；/n(2)、得到平均亮度图像，在分离出的图像范围内，求所有像素的灰度平均值，具体为：分离出检测区域后，计算图像F(x，y)在检测区域范围内所有像素的灰度平均值，记为V，然后用V去代替范围内每一个像素的原始灰度值，由此得到新图像G(x，y)；/n(3)、图像之间求差，用得到的灰度平均值去减分离出图像范围内每个像素的灰度值，得到其差值图像，具体为：图像G(x，y)减去图像F(x，y)，得到的差图像记为H(x，y)；/n(4)、差图二值化，用设定的阈值对分离出范围内的差值图像进行二值化处理，得到的白色区域即为分割出来的缺陷，具体为：结合工程实际设定一个固定阈值T，对图像H(x，y)进行二值化，大于等于T的灰度值取1，小于T的灰度值取0，正常区域灰度值与平均亮度接近，H(x，y)中对应的值小，灰度值取0，缺陷区域灰度值与平均亮度相差大，H(x，y)中对应的值也大，灰度值取1，此时得到的二值图像即为分割出来的缺陷图像，白色区域对应于缺陷部分；/n(5)、缺陷分析与标注，对白色区域进行几何分析和统计分析，得出缺陷大小、缺陷个数检测数据；/n(6)、得出结论并存储数据，根据设定的质量检测标准，判断产品是否合格，同时保存检测数据，完成一次检测。/n