[发明专利]基于带约束最小二乘法的超声衰减系数成像方法

摘要

本发明属于超声量化分析技术领域，具体为一种基于带约束最小二乘算法的超声衰减系数成像方法。本发明方法首先将接收到的射频回波信号分割成若干个相互重叠的数据块，然后利用welch算法评估数据块的功率谱，接着结合功率谱信息和约束条件，利用最小二乘算法评估衰减系数，最后对感兴趣区域内每个数据块内的衰减系数进行成像以获得超声衰减系数成像。在本发明中，引入的约束条件避免了最小二乘算法因局部最大值收敛而导致的误差，提高了衰减评估算法在背散射特性均一情况下的评估准确度。本发明作为一种超声量化诊断方法，可为超声的临床诊断提供更丰富的信息和手段。

主权项

一种基于带约束最小二乘算法的衰减系数评估方法，其特征在于具体步骤为：（1）将接收到的原始射频回波信号划分成若干个相互重叠的数据块；（2）将FWHM值和误差作为指标，对窗长和窗宽参数进行最优化选取，使得超声衰减成像的评估精确度和空间分辨率综合目标下最优；（3）在数据块内利用welch算法对功率谱进行评估，并利用平滑窗对回波功率谱进行平滑处理，以减少噪声对评估结果的影响；结合功率谱信息和约束条件，引入一个带三参数的数学模型并利用最小二乘算法对代价函数进行拟合，以同时评估数据块内的局部衰减系数和背散射系数；（4）对每个数据块进行局部衰减系数评估，将评估值作为数据块对应区域的衰减系数，将所有数据块内的衰减系数进行成像，即得到超声衰减成像。