[发明专利]一种发射率的测量方法在审

专利信息
申请号: 201510401884.6 申请日: 2015-07-09
公开(公告)号: CN105004754A 公开(公告)日: 2015-10-28
发明(设计)人: 李云红;张恒;马蓉;贾利娜 申请(专利权)人: 西安工程大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 罗笛
地址: 710048 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种发射率的测量方法,先建立优化的发射率测量模型,再使用优化的发射率测量模型测量待测物体的发射率。建立优化的发射率测量模型具体包括以下步骤:建立初始发射率测量模型,选择与待测物体同种材料的物体作实验物体,设定发射率估计值ε′o并计算实验物体的设定温度T″obj;将实验物体放入黑体炉,将黑体炉的温度设定为T″obj,读取稳定后测定黑体炉内的实验物体温度Tobj以及黑体炉外的环境温度Tsur;利用红外热像仪捕获实验物体的热辐射itot;将itot、Tobj及Tsur带入发射率测量模型,求得实验物体的发射率εo,比较εo与ε′o,如果ε0>ε′o,优化结束;如果εo<ε′o,重新设定ε′o,再次优化,直至ε0>ε′o时优化结束。该方法简单快捷,优化好的发射率测量模型用于测量物体的发射率,测量结果准确。
搜索关键词: 一种 发射 测量方法
【主权项】:
一种发射率的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,建立优化的发射率测量模型;步骤二,使用优化的发射率测量模型测量待测物体的发射率。
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