[发明专利]一种发射率的测量方法

权利要求书

1.一种发射率的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，建立优化的发射率测量模型；

步骤二，使用优化的发射率测量模型测量待测物体的发射率。

2.根据权利要求1所述的发射率的测量方法，其特征在于，所述的步骤一具体按照以下步骤实施：

步骤1，建立初始发射率测量模型：

以黑体作为参考，确定红外热像仪的标定曲线为

Ib(T)=AeB/T-F---(1)]]>

式中A、B、F是标定常数，A是探测器的响应因子，B是光谱因子，F是探测器的形状因子，T是黑体的绝对温度，e为发射率测量模型的目标精度；

根据红外物理的辐射定律及式(1)得到初始发射率测量模型为

ϵo=itot-IsurIobj-Isur---(4)]]>

式中，ε_o是物体的发射率，红外探测器接收到的热辐射i_tot，I_obj为物体的绝对温度下物体本身的红外辐射，I_sur为环境的绝对温度下物体对环境的反射辐射；

步骤2，选择与待测物体同种材料的物体作实验物体，查找材料发射率手册中实验物体的发射率值，将其设定为实验物体的发射率估计值ε_o′；

步骤3，由发射率估计值ε_o′计算实验物体的设定温度T″_obj；

步骤4，将实验物体放入黑体炉，同时将黑体炉的温度设定为T″_obj；当黑体炉的温度稳定后，用热电偶或精密温度计读取此时测定黑体炉内的实验物体温度T_obj以及黑体炉外的环境温度T_sur；迅速打开黑体炉的箱盖，利用红外热像仪捕获实验物体的热像，得到实验物体的热辐射i_tot；

步骤5，将实验物体热辐射i_tot、实验物体温度T_obj以及环境温度T_sur带入式(4)，求得实验物体的发射率ε_o；

步骤6，比较实验物体的发射率ε_o与发射率估计值ε_o′，如果ε₀>ε_o′，则优化结束；如果ε_o<ε_o′，则重新设定发射率估计值ε_o′，再次执行步骤2-步骤5，直至ε₀>ε_o′时优化结束，得到优化的发射率测量模型。