[发明专利]基于死区时间测量的平均波形捕获率测试方法有效

专利信息
申请号: 201510372830.1 申请日: 2015-06-30
公开(公告)号: CN104977556B 公开(公告)日: 2017-09-12
发明(设计)人: 张沁川;杨扩军;郭连平;曾浩;赵佳;宋金鹏 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙)51220 代理人: 温利平,陈靓靓
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于死区时间测量的平均波形捕获率测试方法,首先生成斜坡信号或对称三角波信号作为测试基础信号,并生成触发频率超过被测示波器标称的最大波形捕获率的触发信号,根据测试基础信号和触发信号对数字三维示波器进行设置,按照不同的延迟时间对测试基础信号进行延时得到测试信号,数字三维示波器在触发信号作用下以最高捕获率对测试信号进行采集,测量每个捕获波形的垂直起始电压,计算两个相邻捕获波形的死区时间,将所有测试信号得到的所有死区时间进行平均,得到平均死区时间,最后根据平均死区时间计算得到平均波形捕获率。本发明的技术方案简单易行,得到的平均波形捕获率能有效反映系统的总体捕获性能。
搜索关键词: 基于 死区 时间 测量 平均 波形 捕获 测试 方法
【主权项】:
一种基于死区时间测量的平均波形捕获率测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:生成斜坡信号或对称三角波信号作为测试基础信号,测试基础信号的持续时间为T,测试基础信号的最大幅值与最小幅值的差值记为S;S2:生成触发信号,其频率g超过被测数字三维示波器标称的最大波形捕获率;S3:根据测试基础信号和触发信号对数字三维示波器进行触发参数设置,并设置数字三维示波器的水平刻度到最快实时采样档或给定的最高波形捕获率状态,其对应的捕获时间记为h;显示方式为点显示、无限余辉;存储深度为最小值;S4:分别采用延迟时间τk对测试基础信号进行延时,得到K个测试信号,其中,k的取值范围为1≤k≤K,K表示测试信号的数量;并且τk>τk‑1,τ0=0,对于每个测试信号,分别按照以下步骤得到对应的死区时间:向数字三维示波器同时输入触发信号和测试信号,数字三维示波器在触发信号的作用下,以最高波形捕获率对测试信号进行采集;经过预设的测试时间τk+T后,触发信号关闭,测量数字三维示波器显示的每个捕获波形的垂直起始电压,将相同斜率的波形作为一组,按照垂直方向的顺序记各个波形的垂直起始电压为其中i表示测试信号的分段序号,i取值范围为1≤i≤M,M表示捕获波形的分组数,j表示第i段捕获的第j个波形;计算两个相邻捕获波形的死区时间dij,j+1=(vij+1-vij)TMS-h]]>S5:汇总记录所有测试信号得到的死区时间,得到死区时间集合D={D1,D2,…,DQ},Q表示死区时间的数量,Dq表示第q个死区时间,q的取值范围为1≤q≤Q;然后计算所有捕获波形的平均死区时间计算公式为:D‾=1QΣq=1QDq]]>S6:计算数字示波器的平均捕获波形捕获率W,计算公式为:W=1D‾+h.]]>
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