[发明专利]一种舰船仪表检定周期确定方法及系统

摘要

本发明涉及一种舰船仪表检定周期确定方法及系统。本发明针对舰船仪表检定量大的特点，根据每批次的仪表检定合格情况建立了卡方分布模型，并利用假设检验的方法对现行检定周期是否合理进行了判定，并提出了相应的调整方法。本发明合理调整仪表的检定周期，解决了现有技术中检定周期过短、检定频次高而造成检定任务过重和成本增加，检定周期过长则会给装备性能的准确可靠带来隐患的技术问题，同时解决了仪表受航行任务及维修的影响导致实际检定时间间隔与规定的检定周期并不一致，检定数据的统计分析困难的问题。本发明基于卡方分布的模型无需知道被检仪表的具体可靠性模型，具有一定的通用性。

主权项

一种舰船仪表检定周期确定方法，其特征在于，包括如下步骤：根据原始检定数据建立卡方分布模型；根据卡方分布模型利用总体分布的假设检验方法判断现行检定周期是否合理，如果合理，保持现行的检定周期，如果不合理，则计算最小调整时间，根据最小调整时间对现行检定周期进行调整；根据卡方分布模型利用总体分布的假设检验方法判断现行检定周期T0是否合理的具体实现为:利用总体分布的假设检验方法对N批仪表总的实际检定合格率与期望检定合格率P0是否一致进行校验；根据卡方分布模型利用总体分布的假设检验方法对N批仪表总的实际检定合格率与期望检定合格率P0是否一致进行校验的具体实现为：原假定H0：假设N批仪表总的实际检定合格率与期望的检定合格率P0一致；在一定的显著性水平α下，根据α和N查询卡方分布表得到χ2(α,N)；若(α,N)则假设成立，无需调整现行检定周期T0，若(α,N)则假设不成立，则调整现行检定周期T；如果N批仪表的检定合格率与期望的检定合格率P0不一致，调整现行检定周期T0，具体实现如下：求解实际检定合格率平均值计算第i批估计的合格数量g'i，以时间变量Δt调整g′i得到Δg'i；若则延长现行检定周期T0，将第i批估计的合格数量Δg′i带入式(2)，并验证是否满足原假定H0，调整Δt直到找到满足原假定H0的最小Δt值，则新的检定周期T＝T0+Δt0；若则缩短现行检定周期T0，将第i批估计的合格数量Δg′i带入式(2)，并验证是否满足原假定H0，调整Δt直到找到满足原假定H0的最小Δt值，则新的检定周期T＝T0‑Δt0；Δt0为满足原假定H0的最小Δt值。